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Referenzen aus Industrie und Forschung

Seit 2009 am Markt, setzen wir auf kundennahe und anwendungsorientierte Lösungen. Mit der patentierten konfokalen Technologie der „Structured Illumination Microscopy“ (SIM) ergeben sich neue Möglichkeiten zur schnellen und nanometergenauen Oberflächenanalyse für Anwendungen aus den Bereichen MEMS, Halbleiter, Automotive und Mikrofluidik.

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