Standard-Messsystem Duo Vario BASE

Präzise Messungen bis in den einstelligen Nanometer-Bereich, gestochen scharfe Details: Duo Vario BASE bietet den Einstieg in klassische Analyse-Aufgaben wie Rauheits-, Topographie- oder Mikrostruktur-Messungen von Funktionsoberflächen und wurde für die Anwendung von Standardaufgaben konzipiert. Die Messsysteme bestechen durch Genauigkeit und einfache Bedienung und bieten so eine schnelle Messung auch für ungeübte Anwender. Je nach Aufgabe nutzt das System das patentierte konfokale Verfahren der strukturierten Beleuchtung und Fokusvariation. Es weist dabei eine vertikale Auflösung bis in den einstelligen Nanometer-Bereich auf. Das Messsystem ist ideal für Bereiche wie Forschung und Entwicklung, Lehre, Prozesskontrolle und Qualitätssicherung. Zudem ist es für eine schnelle Strichprobenanalyse geeignet.

Vorteile auf einen Blick

  • Keine Verwendung von Rauschfiltern, komplette Transparenz der Rohdaten
  • Hochpräzise Messungen bis in den einstelligen Nanometer-Bereich
  • 2D- und 3D-Charakterisierung von Oberflächenmerkmalen durch schnelle Flächenscans
  • Nahezu artefaktfreie Messungen, da technologiebedingt nur geringe Kohärenz- und Speckle-Effekte – im Gegensatz zu Laser-Scanning-Mikroskopen
  • Messung unterschiedlichster Oberflächen und Materialien, sogar spiegelnde Flächen und transparente Schichten
  • Auf Normen rückführbare Rauheitsmessungen mit PTB zertifizierten Normale unabhängiger Hersteller, z.B. HALLE
  • Einfache Bedienung auch für ungeübte Anwender durch bedienerfreundliche, intuitive Mess-Software ConfoVIZ®
  • Große Auswahl an Auswertungen über etablierte Analyse-Software MountainsMap©, Polyworks©, GOM© etc.

Lösen Sie klassische Messaufgaben mit einem Messsystem

  • Form- und Kontur: Winkel, Höhen, Breiten, Radien etc.
  • Rauheit profilbasiert nach DIN ISO 4287/4288 und 13565 sowie flächenbasiert nach DIN ISO 25178 
  • Stufenhöhen
  • Funktionale Volumenparameter nach DIN ISO 25178 (z.B. Vmp, Vmc,Vvc, Vvv-Parameter)
  • Texturrichtung/Isotrophie, dominante Welligkeit
  • Tribologie: Materialanteil, Rk-Parameter
  • Schneidkantenmessung: Schartigkeit, Verrundungsradius, Form, K-Faktor, Fehlhöhe
  • u.v.m.

Schnelle 3D-Analyse von Mikrostrukturen

Die Vermessung erfolgt sehr schnell. Mit einer hohen Lateral- und Tiefenauflösung benötigen die Messsysteme für einen typischen Oberflächenscan wenige Sekunden. Der Bildstapel wird von der Software zu einer 3-D Punktewolke verrechnet, die dem Anwender direkt nach der optischen Abtastung zur Verfügung steht.

Das praxisbewährte Messverfahren reduziert Stillstandzeiten in der Produktion, die durch aufwendige Probenvorbereitungen oder eine lange Inspektionsdauer verursacht werden. Aufgrund der Möglichkeit einer unmittelbaren und gezielten Reaktion auf kritische Ergebnisse können Ausschuss reduziert und Stillstandzeiten minimiert werden.

Flächenhafte Auswertung - für ein Mehr an Informationen

Bei funktionstragenden Oberflächen wie z.B. Lagern bestimmt die Oberflächenqualität die Produkteigenschaft entscheidend. Um moderne tribologische Funktionsoberflächen mit zufällig verteilten Strukturelementen zu analysieren reicht es nicht mehr aus, die Parameter Rpk, Rk und Rvk anhand einzelner Profillinien zu bestimmen. Vielmehr ist es erforderlich die funktionsorientierten Oberflächenparameter flächig zu beurteilen und so einen Informationsgewinn über die Funktion zu erzielen und nicht nur einen Zahlenwert zu erhalten: z.B. mit den flächenhaften Funktionsparametern Spk, Sk sowie Svk als Pendant zu den genannten Profilparametern.

Die Qualitätssicherung in der Herstellung von Funktionsoberflächen war bisher taktilen Geräten vorbehalten. Aber besonders bei reflektierenden, feinen Oberflächen als auch bei transparenten Schichten zeigt das konfokale Messprinzip der Strukturierten Beleuchtung seine Stärken. Die von Confovis patentierte Technologie ermöglicht die geometrische Beschaffenheit feinster Oberflächen und Bauteile in jedem Entwicklungs- und Produktionsschritt zu überwachen, wenn Laser Scanning Mikroskope an ihre Grenzen kommen.

Werkzeughersteller können beispielsweise Fräser, Gewindebohrer oder Wendeschneidplatten nicht nur in Bezug auf die Formmerkmale wie Schneidkantenradius und -winkel überprüfen, sondern auch die Rauheit normgerecht messen. Die Messung von großen Winkeln wird mittels Fokusvariation durchgeführt. Feinste Oberflächen werden dagegen mit Konfokal-Messtechnik bis in den einstelligen Nanometer-Bereich gemessen.

Vielseitige Analyse-Funktionen für feinste Oberflächenstrukturen

Mit der Kombination aus herstellereigener Mess-Software ConfoVIZ© und marktetablierter Auswerte-Software MountainsMap® bietet das Messsystem Duo Vario BASE ein hohes Maß an Benutzerfreundlichkeit und Flexibilität. Die Mess-Software erstellt, sowohl mit der Fokusvariation als auch mit den konfokal gemessenen Messpunkten, eine 3D-Punktewolke. Diese bildet ausschließlich real aufgenommene Messpunkte ab. Auf ein softwareseitiges Auffüllen nicht gemessener Datenpunkte oder eine Filterung wird verzichtet. Dem Anwender stehen die Messwerte somit unverfälscht in einem Koordinatensystem zur Verfügung. Die gewonnenen Ergebnisse können fertigungsbegleitend genutzt und je nach Bedarf in unterschiedlichen Formaten ausgegeben werden.

Produktausführungen

Je nach Messaufgabe stellt Confovis das Messsystem kundenspezifisch zusammen. Dabei stehen eine breite Auswahl an kompatiblen Komponenten zur Verfügung: von Scan-Modulen sowie hochpräzisen Nikon- und Olympus-Objektiven, über leistungsfähige Mess- und Analyse-Software bis hin zu einer Vielzahl an Handling- und Aufnahmevorrichtungen.

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Telefon: +49 3641 27 410 00
E-Mail: info[at]confovis.com